Ведение бухгалтерского управленческого учета
06.08.2016Для измерения шероховатостей методом ощупывания применяются специальные приборы: профилометры и профилографы. Профилографами называют приборы, записывающие колебания иглы при ее движении по шероховатой поверхности и дающие профилограмму поверхности. Профилометры могут показывать на специальном приборе среднеквадратичные отклонения. Профилограмма может иметь увеличение по ординатам от 400 до 2500 раз, а по абсциссам 10 -г 50 раз. Скорость движения иглы по поверхности от 0,3 до 1,5 мм/мин. Возможная длина пути иглы 125 мм.Радиус закругления иглы 12 д. Давление иглы на ощупываемую поверхность от 1 до 5 г. Прибор может быть использован в лабораторных и цеховых условиях. Изучите ведение бухгалтерского управленческого учета на предприятии.
Лучи света от электролампы входят в призму б, установленную в левом положении, показанном пунктиром, отражаются от ее наклоненного под углом 45° торца, идут вниз через правую половину круглого стеклышка, несущего на себе прозрачную полосу и прозрачную точку. Снизу стеклышка помещена призма. Лучи света, пройдя через прозрачную полосу, попадают на призму и, дважды отражаясь, освещают снизу шкалу, нанесенную на стеклышке. Лучи же, прошедшие через прозрачную точку, идут вниз, минуя призму, попадают на призму, отражаясь, поступают в линзу и далее, параллельным пучком на зеркальце ощупывающей головки прибора, несущей алмазную иглу. Игла связана с зеркальцем рычагом и шарниром таким образом, что при перемещении ее по неровностям поверхности детали зеркальце будет иметь некоторые перемещения. Лучи света, проникшие через линзу в ощупывающую головку, попадают на зеркальце, от него на неподвижное зеркальце, от него, отражаясь, опять на подвижное зеркальце, оттуда обратно в линзу, призму и попадают на стеклышко, влево от шкалы на прозрачной полосе, в виде «зайчика». Далее эти лучи попадают через линзы в объектив, на призму, отражаясь от нее, на вращающийся барабан обтянутый светочувствительной бумагой, на которой получается (после проявления) профилограмма измеряемой поверхности.